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電路板邏輯掃描探測儀

電路板邏輯掃描探測儀

產(chǎn)品型號: IST5700D

所屬分類:電路板故障檢測儀

產(chǎn)品時間:2024-05-07

簡要描述:IST5700D是由美國IST公司開發(fā)研制的一種小型邏輯在線測試儀,由于該設(shè)備體積小、功能強、價格較低,不需要任何附加的軟件及專業(yè)培訓就可以掌握使用特點,因此對一些小型維
修網(wǎng)點和檢測站的維修排障和調(diào)試特別適用。

詳細說明:

IST5700D是由美國IST公司開發(fā)研制的一種小型邏輯在線測試儀,由于該設(shè)備體積小、功能
強、價格較低,不需要任何附加的軟件及專業(yè)培訓就可以掌握使用特點,因此對一些小型維
修網(wǎng)點和檢測站的維修排障和調(diào)試特別適用。
性能特點:“參考板”和“被測板”,的數(shù)據(jù)自動逐點比較功能。  
zui多具有4個獨立輸入端口,每個端口可檢測80通道,通過插接不同的測試夾,可對DIP,
PLCC,SO和SOJ封裝形式的器件進行檢測。
內(nèi)置通用邏輯狀態(tài)指示器,外接通用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭,自動調(diào)節(jié)量程的3位半數(shù)字電壓
表(DVM),均可對被測管腳的邏輯狀態(tài)進行指示,并可通過顯示屏顯示電壓值。
低失真,高帶寬的模擬緩沖器,可將被測管腳的信號通過接口接到示波器或其它測試設(shè)備
上。便于更加仔細的觀察波形,顯示測量結(jié)果,幫助維修人員快速分析故障點。
備有后備電池的CMOS RAM,可以存儲由用戶編制的測試點探測順序的程序編制,存儲和調(diào)出
都非常容易。
借助脈沖存儲器捕捉連續(xù)的時鐘脈沖行測試,也能單純傳輸信號,進行非實的管腳處自動停
下或報警,比傳統(tǒng)的邏輯探測或示波器探更加快捷可靠。
應用:它具有強大的比較功能,可針對被測板和標準板選擇實時或非實時的比較,通過變換
不同管腳數(shù)的測試夾,對兩塊板子上的同種芯片快速測試,也可用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭逐
點測試。
另外,它可以針對基于微處理器的系統(tǒng)板進行測試。用戶只要把被測板與標準板的CPU時鐘
和復位線互連在—起,使兩板同步,就可按照對普通板測試的步驟進行。在兩相同板上使用
相同的EPROM診斷,能更好的幫助整板測試。
由于以上優(yōu)點,它廣泛應用在電子測試測量,電子維修保養(yǎng),檢驗等領(lǐng)域,大大提高檢測的
準確性及效率,達到了事半功倍的效果。因此,受到了越來越多的專業(yè)與非專業(yè)人士的青
睞。愿它也成為您的好幫手。

技術(shù)規(guī)格:

參數(shù)

規(guī)范

夾具探頭

輸入阻抗 通道“ON” -1兆歐

通道“ OFF”-90兆歐

過載保護 +/15V 連續(xù) +/18V 2分鐘

(測試儀必須在電源閉合狀態(tài)下)

輸出端口 zui大輸出電流:+80mA -45mA

zui大輸出電壓擺幅: +15.5V 9.5V

輸入zui小脈寬:帶地線夾 -50nS

W/O地線夾-75nS

zui大頻率響應:20MH2

可探測zui小三態(tài)脈寬 TTL -1us

CMOS-10us

 

手持邏輯筆

輸入阻抗: 兆歐

輸入過載保護: +/-150VDC,+/-75VAC

zui大頻率響應: 20MH2

輸入zui小脈寬 75nS(帶小型地線夾)

脈沖模式: 每按一次鍵產(chǎn)生一個脈沖

脈沖發(fā)生器阻抗: 在活動狀態(tài)時為2歐姆

關(guān)斷狀態(tài)下為 1.5兆歐

脈沖發(fā)生器短路保護:連續(xù)

脈沖發(fā)生器過載保護: +/-75V DC連續(xù)

+/-125V DC一分鐘

實時比較延遲: 范圍1-200 nS,+/-10%

范圍 2-1000ns,+/-10%

系統(tǒng)參數(shù)

重量:凈重 5.5公斤總重8公斤

尺寸: 11.4 X 43.7 X 30cm

溫度: 0—55℃

電壓: 115VAC或220VAC+1-10%

50—60HZ

功耗: 30W

 

型號

IST5700DⅡ

IST5700D Ⅳ

通道

40 X 2路通道

40 X 4路通道

選件

40通道測試探頭

價格

37,800

43,000

產(chǎn)地

美國 IST

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暫無下載內(nèi)容



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