有源近場探頭套件

產(chǎn)品型號： HZ530

所屬分類：電磁兼容EMI測試

產(chǎn)品時間：2024-05-07

簡要描述：HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成

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詳細(xì)說明：

HAMEG 惠美 HZ530 有源近場探頭套件 Near-Field Probe Set

HZ 530 HZ-530

HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連。探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細(xì)長的外形，因此甚至在空間狹窄的測試環(huán)境中也可接觸到測試對象。
磁場探頭可提供一個與頻譜分析儀的磁場強度成正比的信號。這樣就可以很高的精度找到干擾源。
高阻抗探頭可用于確定觸點、線路和印刷電路板上的干擾電平。
電場探頭在這三種探頭中靈敏度zui高。它可用于評估被測設(shè)備中的總體屏蔽和濾波效果。

技術(shù)指標(biāo)（23°C±2°C時）

頻率范圍：	100kHz至1GHz
電源電壓：	6VDC，由頻譜分析儀或電池提供（4節(jié)Mignon/AA電池，不提供）
電源電流：	大約10-24mA DC
探頭尺寸：	40×90×195mm
機箱：	塑料，內(nèi)部電屏蔽
套件包括：	1個電場探頭
	1個磁場探頭
	1個高阻抗探頭
	1條BNC電纜（1.5m）
	1條電源電纜
	操作手冊
	堅固的攜帶箱

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